Sick TMM55 series inclination sensors ใช้เทคโนโลยี capacitive MEMS technology เพื่อทำการวัดมุมเอียงแบบไม่สัมผัสของวัตถุต่อแรงโน้มถ่วงของโลก
SICK TMM55E-PMH060 ใช้เทคโนโลยี capacitive MEMS สำหรับการวัดมุมแบบไม่สัมผัส ช่วยลดการสึกหรอและเพิ่มเสถียรภาพในการวัด เหมาะสำหรับการอ้างอิงมุมต่อแรงโน้มถ่วงที่ต้องการความแม่นยำ โดยอุปกรณ์มีช่วงแรงดัน 11-30 V dc และระดับการป้องกัน IP65/IP67 ตามข้อมูล
Sick TMM55 series inclination sensors ใช้เทคโนโลยี capacitive MEMS technology เพื่อทำการวัดมุมเอียงแบบไม่สัมผัสของวัตถุต่อแรงโน้มถ่วงของโลก
SICK TMM55E-PMH060 ใช้เทคโนโลยี capacitive MEMS สำหรับการวัดมุมแบบไม่สัมผัส ช่วยลดการสึกหรอและเพิ่มเสถียรภาพในการวัด เหมาะสำหรับการอ้างอิงมุมต่อแรงโน้มถ่วงที่ต้องการความแม่นยำ โดยอุปกรณ์มีช่วงแรงดัน 11-30 V dc และระดับการป้องกัน IP65/IP67 ตามข้อมูล