Sick WF2-40B410 เซนเซอร์แบบ Fork (Through Beam Fork) สำหรับการตรวจจับวัตถุขนาดเล็ก ระยะการตรวจจับ 2 mm, แหล่งกำเนิดแสง Infrared, ขั้วต่อ 4-Pin M8 และมาตรฐาน IP65
เซนเซอร์แบบ Fork ถูกออกแบบมาเพื่อการตรวจจับที่ชัดเจนบนสายการผลิต โดยเฉพาะการตรวจจับฉลาก มาร์ก หรือกระดาษซ้อน ด้วยการตอบสนองเร็วและการติดตั้งง่ายบนแผงหรือสายการผลิต
Sick WF2-40B410 เซนเซอร์แบบ Fork (Through Beam Fork) สำหรับการตรวจจับวัตถุขนาดเล็ก ระยะการตรวจจับ 2 mm, แหล่งกำเนิดแสง Infrared, ขั้วต่อ 4-Pin M8 และมาตรฐาน IP65
เซนเซอร์แบบ Fork ถูกออกแบบมาเพื่อการตรวจจับที่ชัดเจนบนสายการผลิต โดยเฉพาะการตรวจจับฉลาก มาร์ก หรือกระดาษซ้อน ด้วยการตอบสนองเร็วและการติดตั้งง่ายบนแผงหรือสายการผลิต