Yamaichi IC51-1004-809 IC Socket

รายละเอียดสินค้า Yamaichi IC51-1004-809

โซ็กเก็ตทดสอบแบบ clamshell สำหรับ QFP พิตช์ 0.5mm จำนวน 100 คอนแทค ของ Yamaichi (รุ่น IC51-1004-809) สำหรับการทดสอบ IC แบบ QFP ด้วยฝาแบบสปริงล็อค

ออกแบบเป็น test socket แบบ clamshell พร้อม hinged lid ที่มีสปริงล็อคเพื่อยึด IC ให้แน่น ช่วยให้การใส่-ถอดชิ้นงานทำได้รวดเร็วและทำซ้ำได้ เหมาะกับกระบวนการทดสอบซ้ำๆ ที่ต้องการความแม่นยำในการจัดตำแหน่ง IC

คุณสมบัติหลัก

• Package Type: QFP
• IC Socket Type: Test Socket (โซ็กเก็ตทดสอบ)
• Number of Contacts: 100
• Pitch: 0.5mm
• Gender: Female
• Body Orientation: Straight
• Contact Material: Beryllium Copper
• Contact Plating: Gold over Nickel
• Socket Mounting Type: Surface Mount (SMT)
• Termination Method: Solder
• Housing Material: PEI, PES, PSU
• มี spring loaded hinged lid latches (ตามคำอธิบาย)

ประโยชน์ในการใช้งาน

• การยึด IC ที่แน่นและเปิด-ปิดง่าย ช่วยลดข้อผิดพลาดในการวางตำแหน่ง
• รองรับการทดสอบที่ทำซ้ำได้อย่างมีประสิทธิภาพ
• การใช้วัสดุคอนแทคและการชุบทองช่วยให้การนำสัญญาณและความทนทานต่อการใช้งานซ้ำดีขึ้น

งานที่เหมาะสำหรับการใช้งาน

• การทดสอบ IC แบบ QFP
• กระบวนการทดสอบซ้ำ ๆ ในการผลิตหรือการพัฒนา

ตัวอย่างการประยุกต์ใช้งาน

• ใช้ในสถานีทดสอบสำหรับ QFP เพื่อจับและทดสอบชิปหลายรอบ
• การใช้งาน SMT บนบอร์ดทดสอบที่ต้องการการบัดกรี

สเปกทางเทคนิคที่สำคัญ

• จำนวนคอนแทค: 100
• Pitch: 0.5mm
• Contact Material: Beryllium Copper, Plating: Gold over Nickel
• Mounting: Surface Mount (SMT)
• Housing Materials: PEI, PES, PSU
• IC Socket Type: Test Socket พร้อม hinged lid และ spring loaded latches

ข้อได้เปรียบของผลิตภัณฑ์

• พิตช์ 0.5mm และจำนวนคอนแทค 100 ทำให้ละเอียดกว่า Samtec (2.54mm) สำหรับงานทดสอบ IC ความหนาแน่นสูง
• เป็นโซลูชันทดสอบ (test socket) ต่างจากตัวเชื่อมต่อทั่วไปหรือโซลูชันบนราง DIN

ข้อควรพิจารณา

• ต้องพิจารณาการยึดติดแบบ SMT และการบัดกรีตามกระบวนการผลิต
• ตรวจสอบความเข้ากันได้ของแพ็กเกจ QFP กับตำแหน่งและพิตช์ของโซ็กเก็ต
• คำนึงถึงความทนทานต่อการใช้งานซ้ำ (material และ plating ที่ระบุ)